測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:05-30 2023 來自:祥宇精密
刀具測量儀是制造業中一種常用的工具,可以用來檢測切削工具的尺寸、形狀、位置和角度等參數,以確保它們滿足生產要求。針對不同的材料和加工工藝,市場上涌現了各種類型的刀具測量儀。下面將介紹幾種常見的刀具測量儀及其特點和應用范圍。
一、光學投影儀
光學投影儀是一種較為傳統的刀具測量儀器,它利用光學原理放大被測試物體的影像,再通過目鏡或CCD相機觀察并對其進行測量和分析。由于采用了高倍率的放大鏡頭和高分辨率的CCD攝像頭,所以光學投影儀可以在很小的誤差范圍內精確地測量刀具的尺寸以及質量問題,特別適用于檢驗刀具表面缺陷、邊緣質量和輪廓形狀等。
二、掃描式激光測量儀
掃描式激光測量儀通過觸發激光掃描儀以獲取刀具表面的三維坐標點云數據,并利用計算機處理這些數據來分析刀具的各項尺寸參數。相較于光學投影儀的二維測量方式,掃描式激光測量儀可以實現全方位、無盲區的三維測量,并且其測量速度較快,精度高。但是,該設備需要復雜的數據預處理和后期處理,所以要求使用者有較高的專業技能。
三、半自動式測量儀
半自動式測量儀結合了光學原理和計算機控制技術,可實現快速準確地對刀具形狀、尺寸等參數進行測量和分析。該設備操作簡便,測量速度快,適用于中小批量生產線的質檢工作。同時,它還具備儲存、打印、自動識別等功能,可大幅提高生產效率和質量水平。
以上是幾種常見的刀具測量儀器,每種測量儀器都有其獨特的特點和適用范圍。在選擇刀具測量儀器時,應根據實際需求和工藝特點進行選擇,避免浪費不必要的資源和時間。值得注意的是,除了設備本身的性能和精度外,還應選擇質量可靠、售后服務完善的供應商。
參考文獻:
1. 航空制造技術, 劉浩,2010(第二版)
2. 光學測量技術, 王欽銘,2008(第三版)
3. 刀具測量技術及其在企業中的應用, 李云剛,2013(第一版)
400-801-9255